Συστήματα λέιζερ
- Ti:Sapp Ι
Κύρια δέσμη:
Κεντρικό μήκος κύματος: 800 nm
Ισχύς κορυφής (μέγιστό): 45 TW
Ενέργεια παλμού: έως 1,1 J
Μεταβαλλόμενη διάρκεια παλμού: 23-80 fs
Ρυθμός εκπομπής παλμών: 0,5-10 Hz
Δευτερεύουσα δέσμη:
Κεντρικό μήκος κύματος: 800 nm
Ενέργεια παλμού: 10 mJ,
Μεταβαλλόμενη Ενέργεια παλμού: 30 – 100 fs
Ρυθμός εκπομπής παλμών: 0,5 – 10 Hz
Συγχρονισμένη με την κύρια δέσμη
- Ti:Sapp ΙΙ
Κεντρικό μήκος κύματος: 800 nm
Ρυθμός εκπομπής παλμών: 1 kHz
Σταθεροποίηση φάσης παλμών
Ενισχυτής
Ενέργεια παλμού: 1,5 mJ
Διάρκεια παλμού: 35 fs
Συμπίεση ίνας
Ενέργεια παλμού: 0,8 mJ
Διάρκεια παλμού: <7 fs
- Nd:YAG I
Διάρκεια παλμού: 150 ps
Μήκος κύματος: 1064/532/355/266 nm
Ενέργεια παλμού: 250 mJ @1064 nm
Ρυθμός εκπομπής παλμών: έως 10 Hz
- Nd:YAG II
Διάρκεια παλμού: 6 ns
Μήκος κύματος: 1064/532/355/266 nm
Ενέργεια παλμού: 850 mJ @1064 nm
Ρυθμός εκπομπής παλμών: 10 Hz
Δευτερογενείς πηγές
- Από αλληλεπίδραση του 45TW συστήματος λέιζερ με στερεούς στόχους
Ηλεκτρόνια:
Ενέργεια: ~1 MeV
Δόση: 1 Gy/βολή
Ρυθμός επανάληψης: μία βολή ανά 5΄
Πρωτόνια:
Ενέργεια: ~2,5 MeV
Ρυθμός επανάληψης: μία βολή ανά 5΄
- Από αλληλεπίδραση του 45TW συστήματος λέιζερ με αέριο στόχο.
Ηλεκτρόνια:
Ενέργεια: ~150 MeV μονοενεργειακή
Δόση: 0,1 mGy/βολή
Ρυθμός επανάληψης: έως 1 Hz
Ιόντα:
Ενέργεια: έως 10 MeV
Ρυθμός επανάληψης: έως 1 Hz
- Από αλληλεπίδραση της δευτερεύουσας δέσμης του 45TW συστήματος laser με αέριο στόχο
Υψηλές αρμονικές (λ=800nm):
Ενέργεια φωτονίων: έως την 29η τάξη (27,6nm)
Ρυθμός επανάληψης: έως 10 Hz
- X-Pinch device
Σημειακή πηγή ακτίνων-Χ:
Φασματικό εύρος: 1 – 10 KeV
Διάρκεια εκπομπής: <4 ns
Απόδοση: ~60 mJ/βολή
Διαστάσεις πηγής: <5 μm
Ρυθμός επανάληψης: μία βολή ανά 20’
- Plasma Focus device
EUV (13.5 nm):
Απόδοση: 0,7 J/βολή
Διάρκεια εκπομπής: ~150ns
Ρυθμός επανάληψης: 0,5 Hz
Νετρόνια:
Ενέργεια: 2,4 MeV
Απόδοση: 4.6×106 νετρόνια/βολή
Ρυθμός επανάληψης: 0,5 Hz
Σταθμοί εργασίας
- Σταθμός αλληλεπίδρασης υψηλής έντασης παλμών λέιζερ με την ύλη
Διάμετρος θαλάμου: 1,5 m
Πίεση κενού: 10-6 mbar
- Σταθμός αλληλεπίδρασης μέτριας έντασης παλμών λέιζερ με την ύλη
Διάμετρος θαλάμου: 0,7 m
Πίεση κενού: 10-6 mbar
- Σταθμός X–pinch
Υψηλής χωρικής διακριτικής ικανότητας ακτινογραφία ακτίνων Χ
Υψηλής χωρικής διακριτικής ικανότητας X-ray backlighting
Φασματοσκοπία «σκληρών» ακτίνων Χ
Μελέτη δυναμικής πλάσματος που παράγεται από στερεούς στόχους
Μελέτη αστροφυσικών jets στο εργαστήριο
- Σταθμός Plasma Focus
Εφαρμογές νετρονίων
Φασματοσκοπία νετρονίων
Φασματοσκοπία ακτίνων γ
Μελέτη δυναμικής πλάσματος που παράγεται από αέριους στόχους
- Σταθμός οπτικών διαγνωστικών με παλμούς λέιζερ
Υψηλής χωρικής ανάλυσης δυναμική σκιαγραφία
Υψηλής χωρικής ανάλυσης δυναμική απεικόνιση schlieren
Υψηλής χωρικής ανάλυσης δυναμική συμβολομετρία
Υψηλής χωρικής ανάλυσης δυναμική Fraunhofer diffraction απεικόνιση
- Δυναμική ανάλυση ακουστικών κυμάτων από λέιζερ σε στερεά
Δυναμική ανάλυση μεταβατικής ανακλαστικότητας
Δυναμική ανάλυση συμβολομετρίας πλήρους πεδίου
- Ηλεκτρονική συμβολομετρία κηλίδων
- Οπτικό προφιλόμετρο λευκού φωτός ανάλυσης νανο-κλίμακας
- Σταθμός προσομοιώσεων αλληλεπίδρασης παλμών laser με ύλη & Πλάσμα
Προσομοιώσεις FEM αλληλεπιδράσεων παλμών laser με ύλη & πλάσμα
Προσομοιώσεις PIC αλληλεπιδράσεων παλμών laser με πλάσμα
Προσομοιώσεις Z-Pinch και X-Pinch FEM – MHD
Προσομοιώσεις HD/MHD/CFD για πλάσμα
Προσομοιώσεις αλλαγής φάσεων από στερεό σε πλάσμα
Περισσότερες πληροφορίες στο www.cppl.teicrete.gr